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涂层测厚仪测量结果出现误差的原因
所属分类:技术问答
发布日期:2018-11-30
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引起涂层测厚仪测量误差较大的原因主要有:基体金属磁化(基体金属磁性质会影响测量值精度,热处理和冷加工因素的影响都会产生影响,所以最好使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对涂层测厚仪进行校准);

在测量一些微分子的时候我们需要用到显微镜,而在测量产品的厚度时则需要用到涂层测厚仪。涂层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化,并把它转化成为数字信号。所以当仪器在离电磁场非常近的地方工作,测量会受到严重的干扰,还有可能会发生死机现象。

 

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引起涂层测厚仪测量误差较大的原因主要有:

基体金属磁化(基体金属磁性质会影响测量值精度,热处理和冷加工因素的影响都会产生影响,所以最好使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对涂层测厚仪进行校准);

基体金属厚度过小(厚度过小,测量结果的偏差值会偏大,不应小于涂层测厚仪基体金属的临界厚度);

边缘效应(测量试样边缘时,由于试样边缘形状的不规则与加工时的粗糙容易对测厚仪的测量造成影响);

工件曲率过小(曲率变化对涂层测厚仪的影响非常大,如果您在平面的基材上校准零点后直接测量曲面,那么测值肯定有偏差,正确操作是必须在同一曲率半径的未经喷涂工件基材上进行零点校准,然后在测量涂层厚度);

表面粗糙度过大(软覆盖层试件在测量中可能会变形,因此也会影响精度。基体金属和覆盖层的表面粗糙程度越大,对测量精度的影响也就越大)磁场干扰探头(周围各种电气设备所产生的强磁场、妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质、测头置于试件上所施加的压力大小以及测头的防止方式,都会测量精度产生影响。)

 

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综上所述:为避免工作效率受影响及涂层测厚仪损坏。因此在操作涂层测厚仪时,最好远离强磁场、清除附着物质、保持压力恒定以及使测头与试样表面保持垂直,来确保测量值的精度。以上资讯由广州市东儒电子科技有限公司整合采集而成。希望对你有帮助。

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